霍爾效(xiao)應的測(ce)量是研(yan)究(jiu)半導(dao)體(ti)的重(zhong)要實(shi)驗(yan)方法。利(li)用(yong)霍爾系(xi)數和(he)電導(dao)率的聯合測(ce)量，霍爾效(xiao)應測(ce)試(shi)儀可(ke)以用(yong)來(lai)確(que)定(ding)半導(dao)體(ti)的導(dao)電類型(xing)和載(zai)流(liu)子濃度。通過測(ce)量霍爾系(xi)數與(yu)電導(dao)率溫(wen)度的變化，可(ke)以確(que)定(ding)半導(dao)體(ti)的禁帶寬度、雜質電離能及遷移率的溫(wen)度系數等基(ji)本(ben)參(can)數(shu)。

霍爾效(xiao)應測(ce)試(shi)儀產(chan)品簡介(jie)：

霍爾效(xiao)應的測(ce)量是研(yan)究(jiu)半導(dao)體(ti)的重(zhong)要實(shi)驗(yan)方法。利(li)用(yong)霍爾系(xi)數和(he)電導(dao)率的聯合測(ce)量，變溫(wen)霍爾實(shi)驗(yan)儀可(ke)以用(yong)來(lai)確(que)定(ding)半導(dao)體(ti)的導(dao)電類型(xing)和載(zai)流(liu)子濃度。通過測(ce)量霍爾系(xi)數與(yu)電導(dao)率溫(wen)度的變化，可(ke)以確(que)定(ding)半導(dao)體(ti)的禁帶寬度、雜質電離能及遷移率的溫(wen)度系數等基(ji)本(ben)參(can)數(shu)。

霍爾效(xiao)應測(ce)試(shi)儀采用(yong)現(xian)代(dai)電子技(ji)術和(he)計(ji)算機數(shu)據采集(ji)系統，對(dui)霍爾樣(yang)品(pin)鉆弱(ruo)場(chang)條(tiao)件(jian)下進(jin)行變溫(wen)霍爾系(xi)數和(he)電導(dao)率的測(ce)量，來(lai)確(que)定(ding)半導(dao)體(ti)材料的各種性質。

霍爾效(xiao)應測(ce)試(shi)儀技(ji)術參(can)數(shu)：

電  磁  鐵(tie)：0-300mT可(ke)調

勵(li)磁(ci)電源(yuan)：0-5A可(ke)調，可(ke)自動(dong)換向

穩(wen)  定(ding)  性：<±0.1%

數字特(te)斯拉(la)計(ji)：0-2000mT三位(wei)半數(shu)字顯示

恒流(liu)源(yuan)輸(shu)出(chu)：1mA

穩  定(ding)  性(xing)：±0.1%

數(shu)據采集(ji)系統霍爾電壓測(ce)量分辨(bian)率：1uV

溫(wen)度變化測(ce)量範圍：80-400K

工(gong)作(zuo)電源(yuan)：AC 220V;50Hz

功率範圍：200W

霍爾效(xiao)應測(ce)試(shi)儀實(shi)驗(yan)裝置：

變溫(wen)霍爾測(ce)試(shi)儀主(zhu)要是由(you)電磁鐵(tie)、可(ke)自動(dong)換向穩(wen)流(liu)源(yuan)、恒溫(wen)器、測(ce)溫(wen)控(kong)溫(wen)系(xi)統、數(shu)據(ju)采集(ji)及數據處理(li)系統等(deng)。