​霍爾效應(ying)測試(shi)儀霍爾效應(ying)的測量(liang)是研(yan)究(jiu)半(ban)導體(ti)的重要實驗(yan)方(fang)法

霍爾效應(ying)測試(shi)儀產品(pin)簡(jian)介：

霍爾效應(ying)的測量(liang)是研(yan)究(jiu)半(ban)導體(ti)的重要實驗(yan)方(fang)法。利(li)用(yong)霍爾系(xi)數和(he)電導率的聯合(he)測量(liang)，變(bian)溫霍爾實驗(yan)儀(yi)可(ke)以用(yong)來(lai)確定(ding)半導體(ti)的導電類(lei)型和(he)載(zai)流(liu)子濃度(du)。通(tong)過(guo)測量(liang)霍爾系(xi)數與(yu)電(dian)導率溫度(du)的變(bian)化(hua)，可以確(que)定(ding)半導體(ti)的禁(jin)帶(dai)寬(kuan)度、雜(za)質(zhi)電(dian)離能及遷(qian)移(yi)率的溫度(du)系(xi)數等(deng)基本參數。

霍爾效應(ying)測試(shi)儀采(cai)用(yong)現代(dai)電(dian)子技術(shu)和(he)計算(suan)機數據采(cai)集(ji)系(xi)統，對(dui)霍爾樣品(pin)鉆弱場條件(jian)下(xia)進行變(bian)溫霍爾系(xi)數和(he)電導率的測量(liang)，來確(que)定(ding)半導體(ti)材(cai)料的各種性質(zhi)。

霍爾效應(ying)測試(shi)儀技術(shu)參數：

電(dian)  磁  鐵(tie)：0-300mT可調

勵(li)磁電(dian)源：0-5A可調，可自(zi)動換(huan)向

穩  定(ding)  性：<±0.1%

數字(zi)特斯拉(la)計(ji)：0-2000mT三位(wei)半(ban)數字(zi)顯示

恒(heng)流(liu)源(yuan)輸出(chu)：1mA

穩  定(ding)  性：±0.1%

數據采(cai)集(ji)系(xi)統霍爾電壓測量(liang)分辨率：1uV

溫度(du)變(bian)化(hua)測量(liang)範圍：80-400K

工作(zuo)電(dian)源(yuan)：AC 220V;50Hz

功(gong)率範圍：200W

霍爾效應(ying)測試(shi)儀實驗(yan)裝(zhuang)置(zhi)：

變(bian)溫霍爾測試(shi)儀主要(yao)是(shi)由(you)電磁鐵(tie)、可自(zi)動換(huan)向穩流(liu)源(yuan)、恒(heng)溫器、測溫控溫系(xi)統、數據采(cai)集(ji)及數據處(chu)理系(xi)統等(deng)。