教(jiao)儀(yi)器(qi)霍爾效應(ying)測(ce)試儀(yi)實驗(yan)裝置也(ye)叫變(bian)溫霍(huo)爾效應(ying)實(shi)驗儀(yi)

霍爾效應(ying)測(ce)試儀(yi)產品簡(jian)介：

霍(huo)爾效應(ying)的測(ce)量是(shi)研(yan)究(jiu)半導體的重(zhong)要實(shi)驗方(fang)法(fa)。利用(yong)霍爾系數(shu)和(he)電(dian)導率(lv)的聯合測(ce)量，變(bian)溫霍(huo)爾實驗(yan)儀(yi)可以(yi)用(yong)來確定(ding)半(ban)導體的導電(dian)類型(xing)和載(zai)流(liu)子(zi)濃度。通(tong)過(guo)測(ce)量霍爾系數(shu)與(yu)電(dian)導率(lv)溫(wen)度的變(bian)化，可(ke)以確定(ding)半(ban)導體的禁帶寬度、雜(za)質電(dian)離能(neng)及(ji)遷(qian)移(yi)率(lv)的溫(wen)度(du)系(xi)數(shu)等(deng)基本參數。

霍爾效應(ying)測(ce)試儀(yi)采用(yong)現(xian)代(dai)電(dian)子技術(shu)和計算機(ji)數據采(cai)集系(xi)統(tong)，對(dui)霍爾樣(yang)品鉆(zuan)弱場(chang)條(tiao)件下(xia)進行(xing)變(bian)溫霍(huo)爾系數(shu)和(he)電(dian)導率(lv)的測(ce)量，來確定(ding)半(ban)導體材(cai)料(liao)的各(ge)種(zhong)性(xing)質。

霍爾效應(ying)測(ce)試儀(yi)技術(shu)參數：

電(dian)  磁  鐵(tie)：0-300mT可(ke)調(tiao)

勵磁(ci)電(dian)源：0-5A可調(tiao)，可自(zi)動(dong)換(huan)向(xiang)

穩(wen)  定(ding)  性：<±0.1%

數字特斯(si)拉(la)計：0-2000mT三(san)位半數(shu)字顯(xian)示(shi)

恒流(liu)源輸(shu)出：1mA

穩(wen)  定(ding)  性：±0.1%

數據(ju)采集系(xi)統(tong)霍(huo)爾電(dian)壓測(ce)量分辨率(lv)：1uV

溫(wen)度變(bian)化測(ce)量範(fan)圍(wei)：80-400K

工(gong)作電(dian)源：AC 220V;50Hz

功率(lv)範(fan)圍(wei)：200W

霍(huo)爾效應(ying)測(ce)試儀(yi)實驗(yan)裝置：

變(bian)溫霍(huo)爾測(ce)試儀(yi)主要是(shi)由(you)電(dian)磁鐵(tie)、可(ke)自動(dong)換向(xiang)穩(wen)流(liu)源、恒溫器(qi)、測(ce)溫控(kong)溫(wen)系統、數據(ju)采集及(ji)數(shu)據(ju)處(chu)理(li)系統等(deng)。