靜態磁滯(zhi)回(hui)線(xian)測量(liang)儀(yi)適(shi)用於(yu)教(jiao)學，采用靜態法(fa)測量(liang)鐵磁材料(liao)的特性參數(shu)，可(ke)以(yi)完(wan)整地描(miao)繪鐵磁材料(liao)的 磁滯(zhi)回(hui)線(xian)、初(chu)始(shi)磁化曲(qu)線(xian)、基本(ben)磁化曲(qu)線(xian)等。並進而(er)得(de)出(chu)材料(liao)的飽(bao)和(he)磁矩、剩余(yu)磁矩、矯(jiao)頑力、大(da)磁能積(ji)及其(qi)它(ta)參數。

霍(huo)爾(er)效(xiao)應(ying)的測量(liang)是研(yan)究半導體的重要(yao)實(shi)驗方法(fa)。利(li)用霍(huo)爾(er)系數和(he)電導率的聯合測量(liang)，霍(huo)爾(er)效(xiao)應(ying)測試(shi)儀(yi)可(ke)以(yi)用來(lai)確定半導體的導電類(lei)型(xing)和(he)載流子(zi)濃(nong)度(du)。通過(guo)測量(liang)霍(huo)爾(er)系數與(yu)電導率溫度(du)的變化，可(ke)以(yi)確(que)定半導體的禁帶寬(kuan)度(du)、雜質(zhi)電離能(neng)及遷(qian)移率(lv)的溫度(du)系數等(deng)基本(ben)參(can)數(shu)。