絕(jue)緣材料體積(ji)電(dian)阻率測(ce)定(ding)儀根據歐(ou)姆定(ding)律(lv)，被測(ce)電(dian)阻(zu)Rx等於(yu)施(shi)加電壓(ya)V除(chu)以通過的電流(liu)I。傳(chuan)統(tong)的(de)阻計的工(gong)作原理(li)是(shi)測(ce)量電壓V固定(ding)，通(tong)過(guo)測(ce)量流(liu)過(guo)取(qu)樣(yang)電阻(zu)的(de)電(dian)流(liu)I來(lai)得到電(dian)阻值(zhi)。從歐(ou)姆(mu)定(ding)律(lv)可(ke)以看出，由於(yu)電流(liu)I是(shi)與電阻成反比，而不是(shi)成正比，所(suo)以電阻的顯示值(zhi)是(shi)非線性的，即(ji)電(dian)阻無窮(qiong)大時，電(dian)流(liu)為(wei)零，即(ji)表(biao)頭的(de)零(ling)位(wei)處(chu)是(shi)∞，其(qi)附(fu)近的(de)刻度(du)非常(chang)密(mi)，分(fen)辨率很(hen)低(di)。整(zheng)個刻度(du)是(shi)非線性的。

產品(pin)簡(jian)介：

1.體積(ji)表(biao)面電阻(zu)率測(ce)試儀又簡(jian)稱阻(zu)計測(ce)試儀既可(ke)以測(ce)量電阻又可(ke)以測(ce)量微(wei)電(dian)流(liu)。

2.采(cai)用了(le)大規(gui)模集成電路。

3.采用電(dian)子元(yuan)器件(jian)，使儀器測(ce)量精度(du)，操作簡(jian)單(dan)，體積(ji)小，重量輕，觸摸屏(ping)操作，主界(jie)面顯示電壓(ya)、電(dian)流(liu)、電(dian)阻(zu)、電(dian)阻率、厚(hou)度(du)、極(ji)化時間。

4.測(ce)試模式切(qie)換可(ke)以切(qie)換固體、粉體、液(ye)體。

5.電(dian)阻(zu)測(ce)量量限從1×104Ω～1×1018Ω，電流(liu)測(ce)量量限從2×10-4～1×10-16A。

6.體積(ji)表(biao)面電阻(zu)率測(ce)試儀適(shi)用於(yu)橡(xiang)膠(jiao)、塑(su)料(liao)、薄(bo)膜、及粉體、液(ye)體、及(ji)固體和膏(gao)體形(xing)狀的(de)各(ge)種(zhong)絕(jue)緣材料體積(ji)和表(biao)面電阻(zu)值(zhi)的測(ce)定(ding)。本(ben)儀器除(chu)能測(ce)電(dian)阻(zu)外(wai)，還(hai)能直接(jie)測(ce)量微(wei)弱電(dian)流(liu)。

絕(jue)緣材料體積(ji)電(dian)阻率測(ce)定(ding)儀工(gong)作原理(li)：

根據歐(ou)姆定(ding)律(lv)，被測(ce)電(dian)阻(zu)Rx等於(yu)施(shi)加電壓(ya)V除(chu)以通過的電流(liu)I。傳(chuan)統(tong)的(de)阻計的工(gong)作原理(li)是(shi)測(ce)量電壓V固定(ding)，通(tong)過(guo)測(ce)量流(liu)過(guo)取(qu)樣(yang)電阻(zu)的(de)電(dian)流(liu)I來(lai)得到電(dian)阻值(zhi)。從歐(ou)姆(mu)定(ding)律(lv)可(ke)以看出，由於(yu)電流(liu)I是(shi)與電阻成反比，而不是(shi)成正比，所(suo)以電阻的顯示值(zhi)是(shi)非線性的，即(ji)電(dian)阻無窮(qiong)大時，電(dian)流(liu)為(wei)零，即(ji)表(biao)頭的(de)零(ling)位(wei)處(chu)是(shi)∞，其(qi)附(fu)近的(de)刻度(du)非常(chang)密(mi)，分(fen)辨率很(hen)低(di)。整(zheng)個刻度(du)是(shi)非線性的。又(you)由(you)於(yu)測(ce)量不同(tong)的(de)電阻時，其(qi)電(dian)壓V也會(hui)有些(xie)變化，所(suo)以普(pu)通(tong)的(de)阻(zu)計是(shi)精度(du)差、分(fen)辨率低(di)。

本(ben)儀器是(shi)同(tong)時測(ce)出電阻兩(liang)端的(de)電(dian)壓(ya)V和流(liu)過(guo)電(dian)阻(zu)的電流(liu)I，通(tong)過(guo)內(nei)部(bu)的(de)大規(gui)模集成電路完成電(dian)壓除(chu)以電流(liu)的(de)計算(suan)，然後(hou)把(ba)所(suo)得到的(de)結果經(jing)過A/D轉換後(hou)以數字(zi)顯示出電阻值(zhi)，即便(bian)是(shi)電阻兩(liang)端的(de)電(dian)壓(ya)V和流(liu)過(guo)電(dian)阻(zu)的電流(liu)I是(shi)同(tong)時變化，其(qi)顯示的電(dian)阻(zu)值(zhi)不象(xiang)普(pu)通(tong)阻(zu)計那(na)樣(yang)因被測(ce)電(dian)壓(ya)V的(de)變化或(huo)電流(liu)Ｉ的(de)變化而變，所(suo)以，即使測(ce)量電壓、被測(ce)量電阻、電源電壓(ya)等發(fa)生(sheng)變化對其(qi)結果影(ying)響(xiang)不(bu)大，其(qi)測(ce)量精度(du)很(hen)，從理(li)論上(shang)講(jiang)其(qi)誤(wu)差可(ke)以做到零，而實(shi)際(ji)誤差可(ke)以做到千分(fen)之幾或(huo)萬分(fen)之幾。

絕(jue)緣材料體積(ji)電(dian)阻率和表(biao)面電阻(zu)率測(ce)定(ding)儀符合(he)：

GB/T 1410-2006《 固體絕(jue)緣材料體積(ji)電(dian)阻率和表(biao)面電阻(zu)率試驗方(fang)法》

ASTM D257-99《絕(jue)緣材料的(de)直流(liu)電(dian)阻(zu)或(huo)電導試驗方(fang)法》

GB/T 10581-2006 《絕(jue)緣材料在溫下(xia)電阻(zu)和電阻(zu)率的(de)試驗方(fang)法》

GB/T 1692-2008 《硫化(hua)橡(xiang)膠(jiao) 絕(jue)緣電阻率(lv)的測(ce)定(ding)》

GB/T 2439-2001《硫(liu)化(hua)橡(xiang)膠(jiao)或(huo)熱塑性橡(xiang)膠(jiao) 導(dao)電(dian)性能和耗(hao)散性能電阻(zu)率(lv)的測(ce)定(ding)》

GB/T 12703.4-2010 《紡織(zhi)品(pin)  靜電(dian)性能的評定(ding)  第(di)４部(bu)分(fen)：電阻率》

GB/T 10064-2006《測(ce)定(ding)固體絕(jue)緣材料絕(jue)緣電阻的(de)試驗方(fang)法》

GB/1672-1988 液體增塑(su)劑(ji)體積(ji)電(dian)阻率的(de)測(ce)定(ding)

絕(jue)緣材料體積(ji)電(dian)阻率測(ce)定(ding)儀主要(yao)特點(dian)：

1.顯示方(fang)式：彩(cai)色觸摸屏。

2.測(ce)量時間顯示：準(zhun)確確定(ding)試樣(yang)極(ji)化時間，使測(ce)量結果加準(zhun)確。

3.試驗測(ce)試電壓(ya)：0-1000V任意(yi)調(tiao)節(jie)。

4.10V、50V、100V、250V、500V、1000V自(zi)動(dong)調(tiao)節(jie)。

5.電(dian)阻(zu)測(ce)量量程為(wei)0.01×104Ω ～1×1018Ω。

6.電流(liu)測(ce)量量程為(wei)2×10-4A～1×10-16A

7.測(ce)試前無(wu)須(xu)人(ren)工(gong)手動(dong)去調(tiao)節(jie)電(dian)流(liu)是(shi)否歸(gui)零(ling)，體積(ji)表(biao)面電阻(zu)率測(ce)試儀在實(shi)驗前會(hui)自(zi)動(dong)校準(zhun)電(dian)流(liu)歸(gui)零(ling)。

8.測(ce)試開始後(hou)無(wu)須(xu)人(ren)工(gong)手動(dong)去調(tiao)節(jie)電(dian)壓(ya)檔(dang)位(wei)，本(ben)儀器測(ce)試時候內(nei)部(bu)自(zi)動(dong)調(tiao)節(jie)電(dian)壓(ya)。

9.測(ce)試開始後(hou)無(wu)須(xu)人(ren)工(gong)手動(dong)調(tiao)節(jie)次(ci)方(fang)檔位(wei)，本(ben)儀器測(ce)試時候內(nei)部(bu)自(zi)動(dong)調(tiao)節(jie)次(ci)方(fang)檔位(wei)。

10.所(suo)有測(ce)試電壓(ya)0-1000V 測(ce)試時電(dian)阻(zu)結果直讀(du)，免(mian)去老式阻(zu)計在不同(tong)測(ce)試電壓(ya)下(xia)或(huo)不同(tong)量程時要(yao)乘以系(xi)數等使用不(bu)便(bian)的麻煩(fan)，使測(ce)量超(chao)電阻就(jiu)如(ru)用萬用表(biao)測(ce)量普(pu)通(tong)電(dian)阻(zu)樣(yang)簡(jian)便。

11.既(ji)能測(ce)超(chao)電阻又(you)能測(ce)微(wei)電(dian)流(liu)。

12.溫度(du)濕(shi)度(du)大氣壓力采集

13.中(zhong)英文(wen)語(yu)言切(qie)換。

14.測(ce)試結果對比(bi)分(fen)析(xi)。          

15.USB通訊(xun)。

16.測(ce)試結果內(nei)部(bu)儲存。      

17.測(ce)試結果打(da)印。

18.三(san)組(zu)試樣(yang)同(tong)時測(ce)試電極(ji)（選配(pei)）。

19.計算(suan)機控(kong)制(zhi)軟(ruan)件(jian)（選配）。

電(dian)腦(nao)軟(ruan)件(jian)界(jie)面

典型應(ying)用：

1.測(ce)量絕(jue)緣材料電(dian)阻、體積(ji)電(dian)阻、表(biao)面電阻(zu)(率)

2.測(ce)量防(fang)靜(jing)電(dian)材(cai)料的(de)電(dian)阻(zu)及(ji)電(dian)阻率

3.測(ce)量計算(suan)機房(fang)用活(huo)動(dong)地板(ban)的(de)系(xi)統電阻(zu)值(zhi)

4.測(ce)量防(fang)靜(jing)電(dian)鞋(xie)、導電鞋(xie)的電阻(zu)值(zhi)

5.光電(dian)二(er)極(ji)管暗(an)電流(liu)測(ce)量

6.物理(li),光學(xue)和材料(liao)研(yan)究

技(ji)術指(zhi)標(biao)：

電阻測(ce)量範(fan)圍(wei)： 0.01×104Ω～1×1018Ω

電流(liu)測(ce)量範(fan)圍(wei)為(wei)： 2×10-4A～1×10-16A

顯示方(fang)式：彩(cai)色觸摸屏顯示

內置測(ce)試電壓(ya)：0-1000V自(zi)動(dong)調(tiao)節(jie)（可(ke)根據要(yao)求調(tiao)節(jie)到(dao)需(xu)求電(dian)壓）

基(ji)本(ben)準(zhun)確度(du)：1%

使用環(huan)境：

溫       度(du)：0℃～40℃

相(xiang)對濕(shi)度(du)：<80%

機內測(ce)試電壓(ya)：0-1000V 任意(yi)調(tiao)節(jie)

供(gong)電(dian)形(xing)式： AC 220V，50HZ

絕(jue)緣材料體積(ji)電(dian)阻率和表(biao)面電阻(zu)率測(ce)定(ding)儀配置：測(ce)試儀器1臺(tai)、電源線1條、測(ce)量線3根（屏蔽線、測(ce)試接線、接地線）、大腦(nao)打(da)印機(ji)壹(yi)套、配套軟件(jian)壹(yi)張(zhang)、使用說(shuo)明(ming)書(shu)1份、合(he)格證保修卡各壹(yi)份(fen)。