絕緣(yuan)材(cai)料體積(ji)電(dian)阻(zu)率測試儀具(ju)有精度(du)、顯(xian)示迅速、穩定性好(hao)、讀數方便(bian), 適(shi)用(yong)於(yu)防靜(jing)電(dian)產(chan)品 如防靜(jing)電(dian)鞋(xie)、防靜(jing)電(dian)塑(su)料橡膠制(zhi)品、計(ji)算機(ji)房(fang)防(fang)靜(jing)電(dian)活(huo)動(dong)地(di)板等電(dian)阻(zu)值的(de)檢(jian)驗以及絕(jue)緣(yuan)材(cai)料和電(dian)子(zi)電(dian)器(qi)產(chan)品的(de)絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)測量。

產(chan)品簡介(jie)：

絕緣(yuan)材(cai)料體積(ji)電(dian)阻(zu)率測試儀既(ji)可測(ce)量超(chao)電(dian)阻(zu)，又(you)可測(ce)極(ji)微弱電(dian)流。采(cai)用(yong)了大(da)規模集(ji)成電(dian)路，使儀器(qi)體(ti)積(ji)小、重(zhong)量輕(qing)、準(zhun)確(que)度(du)。以數字(zi)液(ye)晶(jing)顯示電(dian)阻(zu)並同(tong)時(shi)直接顯(xian)示(shi)流過(guo)被測電(dian)阻(zu)的(de)電(dian)流。電(dian)阻(zu)量程(cheng)從(cong)1×104Ω ～1×1018Ω，電(dian)流測(ce)量範(fan)圍為(wei)2×1010-4A～1*10-16A。機(ji)內(nei)測(ce)試電(dian)壓(ya)為(wei)DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。

絕(jue)緣(yuan)材(cai)料體積(ji)電(dian)阻(zu)率測試儀具(ju)有精度(du)、顯(xian)示迅速、穩定性好(hao)、讀數方便(bian), 適(shi)用(yong)於(yu)防靜(jing)電(dian)產(chan)品 如防靜(jing)電(dian)鞋(xie)、防靜(jing)電(dian)塑(su)料橡膠制(zhi)品、計(ji)算機(ji)房(fang)防(fang)靜(jing)電(dian)活(huo)動(dong)地(di)板等電(dian)阻(zu)值的(de)檢(jian)驗以及絕(jue)緣(yuan)材(cai)料和電(dian)子(zi)電(dian)器(qi)產(chan)品的(de)絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)測量。除(chu)能測電(dian)阻(zu)外，還能直接測(ce)量電(dian)流如電(dian)子(zi)器(qi)件(jian)暗(an)電(dian)流等。

適(shi)用(yong)：

GB/T 1410-2006《 固(gu)體(ti)絕(jue)緣(yuan)材(cai)料體積(ji)電(dian)阻(zu)率和表(biao)面電(dian)阻(zu)率試驗方法》

ASTM D257-99《絕(jue)緣(yuan)材(cai)料的(de)直流電(dian)阻(zu)或電(dian)導(dao)試驗方法》

GB/T 10581-2006 《絕(jue)緣(yuan)材(cai)料在溫(wen)下(xia)電(dian)阻(zu)和電(dian)阻(zu)率的(de)試驗方法》

GB/T 1692-2008 《硫(liu)化(hua)橡膠 絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)率的(de)測定(ding)》

GB/T 2439-2001《硫(liu)化(hua)橡膠或熱塑(su)性(xing)橡(xiang)膠 導電(dian)性(xing)能和耗散(san)性(xing)能電(dian)阻(zu)率的(de)測定(ding)》

GB/T 12703.4-2010 《紡(fang)織(zhi)品 靜(jing)電(dian)性(xing)能的(de)評定(ding) 第4部(bu)分(fen)：電(dian)阻(zu)率》

GB/T 10064-2006《測定固體絕(jue)緣(yuan)材(cai)料絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)的(de)試驗方法》

主(zhu)要(yao)特(te)點(dian)：

1.電(dian)阻(zu)測量範(fan)圍：1×104Ω ～1×1018Ω。

2.電(dian)流測(ce)量範(fan)圍：2×10-4A～1×10-16A。

3.體(ti)積小、重(zhong)量輕(qing)、準(zhun)確(que)度(du)。

4.的(de)被測電(dian)阻(zu)、和流過(guo)電(dian)阻(zu)的(de)電(dian)流雙(shuang)顯(xian)示(shi)，使操(cao)作(zuo)測量加(jia)方便(bian)。

5.性(xing)能穩定、讀數方便(bian)。

6.既(ji)能測電(dian)阻(zu)又(you)能測電(dian)流。

7.測(ce)試電(dian)壓(ya)有六種(zhong)選(xuan)擇DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。

8.使(shi)用(yong)操(cao)作(zuo)簡便(bian)，在(zai)任(ren)何(he)電(dian)阻(zu)量程(cheng)和測試電(dian)壓(ya)下(xia)均直(zhi)接讀顯(xian)示數字(zi)結(jie)果(guo)，免(mian)去(qu)要(yao)乘(cheng)以壹個(ge)系數的(de)麻煩，使(shi)測量超(chao)電(dian)阻(zu)就(jiu)如用萬(wan)用表(biao)測(ce)量普(pu)通(tong)電(dian)阻(zu)樣簡便(bian)。

應用(yong)範圍：

1.材(cai)料阻(zu)測試測(ce)量如防靜(jing)電(dian)產(chan)品（防(fang)靜(jing)電(dian)鞋(xie)、防靜(jing)電(dian)塑(su)料橡膠制(zhi)品、計(ji)算機(ji)房(fang)防(fang)靜(jing)電(dian)活(huo)動(dong)地(di)板等）電(dian)阻(zu)值的(de)檢(jian)測(ce)。

2.材(cai)料體電(dian)阻(zu)(率)和表(biao)面電(dian)阻(zu)(率)測量。

3.電(dian)化(hua)學(xue)和材(cai)料測試,以及物(wu)理(li),光學和材(cai)料研究(jiu)。

4.微弱電(dian)流測(ce)量如光電(dian)效(xiao)應和器(qi)件(jian)暗(an)電(dian)流測(ce)量。

體(ti)積(ji)表(biao)面電(dian)阻(zu)率測定儀技(ji)術(shu)指標

電(dian)阻(zu)測量範(fan)圍：1×104Ω ～1×1018Ω，分(fen)為(wei)十(shi)個(ge)量程(cheng)

電(dian)流測(ce)量範(fan)圍：2×10-4A ～1×10-16A

全(quan)數字(zi)液(ye)晶(jing)屏顯示(shi)

準(zhun)   確(que)   度(du)：準(zhun)確(que)度(du)優(you)於(yu)下(xia)表(biao)

(超(chao)出(chu)有效(xiao)顯(xian)示範(fan)圍時(shi)誤差有可(ke)能增加(jia))測(ce)試電(dian)流準(zhun)確(que)度(du)與(yu)電(dian)阻(zu)相同測(ce)試電(dian)壓(ya)準(zhun)確(que)度(du)為(wei)10%

使用環(huan)境：

溫(wen)       度(du)：-10℃～50℃

相對濕度(du)：<90%。

測(ce)試電(dian)壓(ya)：DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V ±10%

供(gong)電(dian)形(xing)式：AC 220V，50HZ

功(gong)       耗：約10W。

儀器(qi)尺(chi)寸(cun)：300mm*280mm*150mm

質(zhi)       量：約3.0KG

體(ti)積表(biao)面電(dian)阻(zu)率測定儀配(pei)置(zhi)：

儀器(qi)主(zhu)機(ji)                                          壹(yi)臺(tai)

屏蔽(bi)箱                                              壹(yi)個(ge)

試驗電(dian)極(ji)                                          三(san)個(ge)

說明(ming)書                                              壹(yi)本(ben)

電(dian)源線                                              壹條(tiao)

數據(ju)線                                              三(san)條(tiao)

合格證(zheng)                                              壹(yi)份

保(bao)修卡                                              壹份

體(ti)積表(biao)面電(dian)阻(zu)率測定儀註意(yi)事(shi)項(xiang)：

儀器(qi)使(shi)用(yong)前(qian)請仔細閱(yue)讀以下(xia)內(nei)容(rong)，否(fou)則(ze)將造成(cheng)儀器(qi)損壞(huai)或(huo)電(dian)擊(ji)情(qing)況(kuang)。

1.檢(jian)查儀器(qi)後(hou)面板(ban)電(dian)壓(ya)量程(cheng)是(shi)否(fou)置(zhi)於(yu)10V檔，電(dian)流電(dian)阻(zu)量程(cheng)是(shi)否(fou)置(zhi)於(yu)104檔。

2.接通(tong)電(dian)源調零(ling)，（註意(yi)此時(shi)主機(ji)不得(de)與屏(ping)蔽(bi)箱(xiang)線路連接）在(zai)“Rx”兩(liang)端(duan)開路的(de)情(qing)況(kuang)下(xia)，調(tiao)零(ling)使電(dian)流表(biao)的(de)顯示(shi)為(wei)0000。然(ran)後(hou)關機(ji)。

3.將待測試樣(yang)平(ping)鋪在不保(bao)護電(dian)極(ji)正(zheng)中央，然後(hou)用保(bao)護電(dian)極(ji)壓(ya)住樣品，再(zai)插(cha)入(ru)被保(bao)護電(dian)極(ji)（不保(bao)護電(dian)極(ji)、保(bao)護電(dian)極(ji)、被保(bao)護電(dian)極(ji)應同(tong)軸且確(que)認電(dian)極(ji)之(zhi)間(jian)無短(duan)路）。

4.測體(ti)積電(dian)阻(zu)時(shi)測試按鈕(niu)撥到Rv邊，測表(biao)面電(dian)阻(zu)時(shi)測試按鈕(niu)撥到Rs邊，

5.接好(hao)測(ce)試線，將測試線將主機(ji)與(yu)屏(ping)蔽(bi)箱連接好(hao)。量程(cheng)置(zhi)於(yu)104檔，打(da)開主機(ji)後(hou)面板(ban)電(dian)源開關按鈕(niu)。從(cong)儀器(qi)後(hou)面板(ban)調(tiao)電(dian)壓(ya)按鈕(niu)到(dao)所(suo)要(yao)求(qiu)的(de)測量電(dian)壓(ya)。(比(bi)如：GBT 1692-2008 硫化(hua)橡膠 絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)率的(de)測定(ding) 中註明(ming)要(yao)求(qiu)在(zai)500V電(dian)壓(ya)進(jin)行(xing)測定，那麽(me)電(dian)壓(ya)就(jiu)要(yao)升(sheng)到(dao)500V)

6.電(dian)流電(dian)阻(zu)量程(cheng)按鈕(niu)從(cong)低(di)檔位(wei)逐(zhu)漸撥檔，每撥壹次(ci)停(ting)留(liu)1-2秒觀察(cha)顯(xian)示(shi)數字(zi)，當(dang)被測電(dian)阻(zu)大(da)於(yu)儀器(qi)測(ce)量量程(cheng)時(shi)，電(dian)阻(zu)表(biao)顯(xian)示(shi)“1”，此時(shi)應繼續(xu)將儀器(qi)撥到量程(cheng)的(de)位(wei)置(zhi)。測(ce)量儀器(qi)有顯(xian)示(shi)值時(shi)應停(ting)下(xia)，在(zai)1min的(de)電(dian)化(hua)時(shi)間(jian)後(hou)測量電(dian)阻(zu)，當前(qian)的(de)數字(zi)乘(cheng)以檔次(ci)即是(shi)被測電(dian)阻(zu)。

7.測試完(wan)畢(bi)先(xian)將量程(cheng)撥至（104）檔，然後(hou)將測量電(dian)壓(ya)撥至10V檔，後(hou)將測試按鈕(niu)撥到中央位(wei)置(zhi)後(hou)關閉(bi)電(dian)源。然後(hou)進行(xing)下(xia)壹(yi)次(ci)測(ce)試。

8.應在(zai)“Rx”兩端(duan)開路時(shi)調零，壹般(ban)壹(yi)次(ci)調(tiao)零(ling)後(hou)在測(ce)試過(guo)程(cheng)中不需(xu)再調(tiao)零。

9.禁止將“RX”兩端(duan)短(duan)路，以免(mian)微電(dian)流放(fang)大(da)器(qi)受大(da)電(dian)流沖(chong)擊(ji)。

10.不得(de)在測(ce)試過(guo)程(cheng)中不要(yao)隨(sui)意改動(dong)測量電(dian)壓(ya)。

11.測(ce)量時(shi)從低次(ci)檔逐漸撥往次(ci)檔。

12.接通(tong)電(dian)源後(hou)，手(shou)指不能觸(chu)及(ji)壓(ya)線的(de)金屬部(bu)分(fen)。

13.不得(de)測試過(guo)程(cheng)中不能觸(chu)摸(mo)微電(dian)流測(ce)試端(duan)。

14.在(zai)測(ce)量阻(zu)時(shi)，應采(cai)用屏蔽(bi)盒將被測物(wu)體(ti)屏(ping)蔽(bi)。

15.嚴禁(jin)在試測(ce)過(guo)程(cheng)隨(sui)意改變電(dian)壓(ya)量程(cheng)及(ji)在(zai)通電(dian)過(guo)程(cheng)中打(da)開主機(ji)。

16.嚴禁(jin)電(dian)流電(dian)阻(zu)量程(cheng)未(wei)在(zai)104檔及電(dian)壓(ya)在(zai)10V檔，換(huan)試樣(yang)。