磁(ci)感應(ying)式(shi)玻璃(li)瓶壁自動測(ce)厚(hou)儀(yi)功(gong)能特(te)點(dian)： 1.測(ce)量(liang)直(zhi)觀方(fang)便(bian)、無損。 2.對玻璃(li)瓶的瓶身(shen)、瓶肩、瓶底(di)等(deng)部(bu)位(wei)均(jun)可進行(xing)測(ce)量(liang)。 3.儀(yi)器(qi)設有(you)按(an)鍵(jian)可以顯(xian)示較(jiao)小厚(hou)度和(he)鎖存厚(hou)度。 4.自動捕捉大值(zhi)、小值(zhi)和平均(jun)值功能(neng)。

數(shu)顯(xian)腐蝕(shi)凹(ao)坑深(shen)度測(ce)量(liang)儀(yi)功(gong)能特(te)點(dian)： 1.量(liang)程(cheng)可選，精(jing)度可選，方(fang)便(bian)兩(liang)兩(liang)組(zu)合。 2.數(shu)字顯(xian)示被測(ce)凹(ao)坑數(shu)值，直(zhi)觀方(fang)便(bian)。 3.使用起(qi)來非(fei)常(chang)方(fang)便(bian)，可以直(zhi)接顯(xian)示讀數(shu)。 4.底(di)部(bu)的長方(fang)體(ti)測(ce)試(shi)基(ji)面(mian)即(ji)可測(ce)平面也可測(ce)部(bu)分凸(tu)面(mian)。 5.基面采(cai)用開口(kou)式(shi)，方(fang)便(bian)觀察(cha)測(ce)試(shi)針(zhen)與(yu)被測(ce)凹(ao)坑的(de)接觸程(cheng)度，減(jian)少認(ren)為誤差。

數(shu)顯(xian)腐蝕(shi)凹(ao)坑深(shen)度測(ce)量(liang)儀(yi)功(gong)能特(te)點(dian)： 1.量(liang)程(cheng)可選，精(jing)度可選，方(fang)便(bian)兩(liang)兩(liang)組(zu)合。 2.數(shu)字顯(xian)示被測(ce)凹(ao)坑數(shu)值，直(zhi)觀方(fang)便(bian)。 3.使用起(qi)來非(fei)常(chang)方(fang)便(bian)，可以直(zhi)接顯(xian)示讀數(shu)。 4.底(di)部(bu)的長方(fang)體(ti)測(ce)試(shi)基(ji)面(mian)即(ji)可測(ce)平面也可測(ce)部(bu)分凸(tu)面(mian)。 5.基面采(cai)用開口(kou)式(shi)，方(fang)便(bian)觀察(cha)測(ce)試(shi)針(zhen)與(yu)被測(ce)凹(ao)坑的(de)接觸程(cheng)度，減(jian)少認(ren)為誤差。

數(shu)顯(xian)腐蝕(shi)凹(ao)坑深(shen)度測(ce)量(liang)儀(yi)功(gong)能特(te)點(dian)： 1.量(liang)程(cheng)可選，精(jing)度可選，方(fang)便(bian)兩(liang)兩(liang)組(zu)合。 2.數(shu)字顯(xian)示被測(ce)凹(ao)坑數(shu)值，直(zhi)觀方(fang)便(bian)。 3.使用起(qi)來非(fei)常(chang)方(fang)便(bian)，可以直(zhi)接顯(xian)示讀數(shu)。 4.底(di)部(bu)的長方(fang)體(ti)測(ce)試(shi)基(ji)面(mian)即(ji)可測(ce)平面也可測(ce)部(bu)分凸(tu)面(mian)。 5.基面采(cai)用開口(kou)式(shi)，方(fang)便(bian)觀察(cha)測(ce)試(shi)針(zhen)與(yu)被測(ce)凹(ao)坑的(de)接觸程(cheng)度，減(jian)少認(ren)為誤差。

數(shu)顯(xian)腐蝕(shi)凹(ao)坑深(shen)度測(ce)量(liang)儀(yi)功(gong)能特(te)點(dian)： 1.量(liang)程(cheng)可選，精(jing)度可選，方(fang)便(bian)兩(liang)兩(liang)組(zu)合。 2.數(shu)字顯(xian)示被測(ce)凹(ao)坑數(shu)值，直(zhi)觀方(fang)便(bian)。 3.使用起(qi)來非(fei)常(chang)方(fang)便(bian)，可以直(zhi)接顯(xian)示讀數(shu)。 4.底(di)部(bu)的長方(fang)體(ti)測(ce)試(shi)基(ji)面(mian)即(ji)可測(ce)平面也可測(ce)部(bu)分凸(tu)面(mian)。 5.基面采(cai)用開口(kou)式(shi)，方(fang)便(bian)觀察(cha)測(ce)試(shi)針(zhen)與(yu)被測(ce)凹(ao)坑的(de)接觸程(cheng)度，減(jian)少認(ren)為誤差。