50米(mi)便攜式電(dian)測(ce)水(shui)位(wei)計(ji)主(zhu)要(yao)由測(ce)線(xian)，探(tan)頭(tou)，水(shui)位(wei)檢(jian)測(ce)器(qi)，卷(juan)線輪(lun)，支(zhi)架 導電(dian)機(ji)構(gou)，搖把(ba)，皮(pi)背包(bao)等組成，要主(zhu)要(yao)特點是(shi)體積(ji)小(xiao)，重(zhong)量(liang)輕(qing)，主(zhu)要(yao)適(shi)用於(yu)地(di)質(zhi)、礦山(shan)，水(shui)文(wen)等部門的水(shui)文(wen)觀(guan)測(ce)孔(kong)，地(di)質(zhi)鉆(zuan)孔(kong)，水(shui)井，水庫(ku)大(da)壩(ba)及江河(he)湖海的直(zhi)接(jie)測(ce)量(liang)，以(yi)替(ti)代目前常(chang)用(yong)的測(ce)繩(sheng)測(ce)鐘(zhong)，電(dian)線萬(wan)用(yong)表(biao)等原始(shi)落(luo)後的(de)簡易(yi)測(ce)水(shui)方(fang)法(fa)。

便(bian)攜式閃(shan)爍(shuo)室測(ce)氡(dong)儀是(shi)壹(yi)款集(ji)快速(su)測(ce)量(liang)、精(jing)細分(fen)析、連續觀(guan)測(ce)等功能於(yu)壹(yi)體的閃(shan)爍(shuo)室型測(ce)氡(dong)儀。該(gai)儀器主機(ji)采用可(ke)換(huan)式圓柱筒形閃(shan)爍(shuo)室采樣(yang)器，並配置(zhi)大(da)尺寸型(xing)光電(dian)倍(bei)增(zeng)管(guan)，可對(dui)空(kong)氣氡(dong)、土壤氡(dong)和水氡(dong)進行快速(su)采(cai)樣(yang)和測(ce)量(liang)。對(dui)於(yu)使用所受到(dao)的長壽命(ming)氡(dong)子(zi)體汙染(ran)，閃(shan)爍室測(ce)氡(dong)儀能夠通過軟件扣除(chu)本(ben)底或(huo)換(huan)采(cai)樣(yang)器解(jie)決，增(zeng)加(jia)儀器測(ce)量(liang)準(zhun)確性(xing)、延長使用(yong)壽命(ming)、降(jiang)低運行成本。

斯計(ji)可用於(yu)測(ce)量(liang)永(yong)磁材(cai)料表(biao)面(mian)磁場(chang)、直流(liu)電(dian)機(ji)、揚聲器(qi)、磁選(xuan)機(ji)、永(yong)磁除(chu)鐵(tie)器的(de)工(gong)作(zuo)磁場(chang)測(ce)量(liang)。可(ke)廣(guang)泛(fan)應用於(yu)磁性(xing)材(cai)料生產(chan)廠(chang)家，永(yong)磁電(dian)機(ji)廠(chang)家，永(yong)磁除(chu)鐵(tie)器的(de)生產(chan)以(yi)及應用單位(wei)。

便攜式多(duo)功(gong)能斯計(ji)可用於(yu)測(ce)量(liang)永(yong)磁材(cai)料表(biao)面(mian)磁場(chang)、直流(liu)電(dian)機(ji)、揚聲器(qi)、磁選(xuan)機(ji)、永(yong)磁除(chu)鐵(tie)器的(de)工(gong)作(zuo)磁場(chang)測(ce)量(liang)。可(ke)廣(guang)泛(fan)應用於(yu)磁性(xing)材(cai)料生產(chan)廠(chang)家，永(yong)磁電(dian)機(ji)廠(chang)家，永(yong)磁除(chu)鐵(tie)器的(de)生產(chan)以(yi)及應用單位(wei)。其(qi)低量(liang)程(cheng)位(wei)可(ke)用(yong)於(yu)測(ce)量(liang)金(jin)屬(shu)材(cai)料退(tui)磁後的(de)剩(sheng)余(yu)磁場(chang)、機(ji)械(xie)零(ling)件加(jia)工(gong)後的(de)弱磁性(xing)、不(bu)銹鋼制(zhi)品(pin)冷加工後的(de)剩(sheng)余(yu)磁場(chang),強磁屏(ping)蔽後的(de)泄漏(lou)磁場(chang)等。

精度大(da)量(liang)程(cheng)斯計(ji)是(shi)基於(yu)霍爾(er)效(xiao)應的磁場(chang)強度(du)測(ce)量(liang)儀(yi)表(biao)的(de)進展，采(cai)用(yong)MCU的手(shou)持(chi)式斯計(ji)。大量(liang)程(cheng)0-±300mT，0-±3000mT，，小(xiao)基(ji)本(ben)誤差1.0%。測(ce)試(shi)和顯示功(gong)能強大(da)，便(bian)於(yu)攜帶，為(wei)現(xian)場(chang)磁場(chang)和磁鐵(tie)表(biao)面(mian)磁場(chang)的磁場(chang)測(ce)量(liang)儀(yi)器(qi)。可(ke)用(yong)於(yu)磁體表(biao)面(mian)磁場(chang)測(ce)量(liang)、直(zhi)流(liu)線(xian)圈(quan)磁場(chang)、直流(liu)電(dian)磁鐵(tie)間隙(xi)磁場(chang)測(ce)量(liang)等。