隨著(zhe)電子(zi)技術和(he)環(huan)境控(kong)制(zhi)技(ji)術的(de)飛速發(fa)展,
塵埃粒子計數(shu)器在環境(jing)控(kong)制(zhi)分(fen)析中獲(huo)得了廣泛(fan)應用(yong),已(yi)成(cheng)為(wei)當(dang)前環(huan)境控(kong)制(zhi)技(ji)術領域(yu)中*的(de)關(guan)鍵性(xing)設備(bei)。然(ran)而塵(chen)埃粒子計數(shu)器的(de)性(xing)能參(can)數(shu)直接(jie)決(jue)定(ding)著(zhe)儀器的(de)性(xing)能,對(dui)其(qi)測量(liang)結(jie)果(guo)的(de)精度和準確(que)度(du)有著(zhe)重要(yao)影響,因(yin)此(ci),從業人(ren)員需要正確(que)理(li)解(jie)儀器性(xing)能參(can)數(shu)的各(ge)項含(han)義並(bing)要(yao)學(xue)會(hui)準(zhun)確(que)測量(liang)表(biao)達,其中對(dui)塵(chen)埃粒子計數(shu)器產(chan)品(pin)的校準維(wei)護是不(bu)可(ke)少的!
塵(chen)埃粒子計數(shu)器的(de)養護與校(xiao)正要(yao)點(dian):
1.塵埃粒子計數(shu)器在使用(yong)了壹段(duan)時(shi)間(jian)之(zhi)後,其光學(xue)系(xi)統以及(ji)檢(jian)測系(xi)統都會發(fa)生(sheng)變(bian)化,如果(guo)光(guang)源老(lao)化、發(fa)光(guang)效率降(jiang)低或(huo)者(zhe)聚(ju)焦錯(cuo)位、透(tou)鏡(jing)被汙染(ran),從而使(shi)整機(ji)的(de)轉(zhuan)換(huan)靈敏度(du)變(bian)化。因此(ci)需按(an)《塵(chen)埃粒子計數(shu)器校(xiao)準規範(fan)》的(de)要(yao)求每(mei)年(nian)定(ding)期到(dao)空(kong)調(tiao)設(she)備(bei)質(zhi)量(liang)監督檢(jian)驗中心(xin)或(huo)者(zhe)中國(guo)建(jian)築科(ke)學(xue)研(yan)究院建(jian)築能源與環(huan)境(jing)檢(jian)測中心(xin)進(jin)行定(ding)期校準,並(bing)且(qie)根據(ju)其出(chu)具(ju)法(fa)定(ding)校(xiao)準(zhun)證書對(dui)儀器各(ge)方面進(jin)行調(tiao)整以獲(huo)得工(gong)作(zuo)狀(zhuang)態。
2.儀器的(de)工作(zuo)位置和采樣管的進氣(qi)口(kou)應處於同(tong)壹氣(qi)壓和(he)同壹溫度下(xia),以避(bi)免影(ying)響氣(qi)路系(xi)統工作(zuo)和(he)產(chan)生(sheng)凝(ning)露而損(sun)壞光(guang)學(xue)系(xi)統。若(ruo)必須(xu)在有壓差(cha)的情(qing)況(kuang)下工作(zuo),則(ze)大(da)壓差(cha)不超過(guo)200Pa在有壓差(cha)和溫度的(de)條(tiao)件下工作(zuo),會(hui)增(zeng)大(da)測量(liang)誤(wu)差(cha),甚(shen)至(zhi)會損(sun)壞儀器。
3.在搬運(yun)儀器時(shi)應輕(qing)搬(ban)輕(qing)放,少受震(zhen)動,可放在包(bao)箱之(zhi)內。