無核(he)密度(du)儀(yi)的(de)基(ji)本(ben)校驗規程(cheng)介(jie)紹(shao)

　　無核(he)密度(du)儀(yi)價格合(he)理(li)，可用於(yu)檢(jian)測(ce)鋪築完(wan)工的(de)瀝(li)青路(lu)面、現(xian)場(chang)瀝(li)青混合(he)料(liao)鋪築層(ceng)密度(du)及(ji)快(kuai)速檢(jian)查(zha)混(hun)合(he)料(liao)的(de)離(li)析(xi)。具有(you)、易用及(ji)靈活(huo)等特(te)點(dian)。無核(he)密度(du)儀(yi)采(cai)用電磁敏(min)感技(ji)術(shu)作(zuo)密(mi)度(du)測(ce)試，幾秒鐘時間(jian)內即(ji)可(ke)得(de)到測(ce)試數(shu)據，節(jie)省時間(jian)和費(fei)用。能(neng)存(cun)儲大約(yue)1000個測(ce)試數(shu)據供以後查(zha)閱(yue)、打(da)印(yin)或下(xia)載(zai)。

　　儀(yi)器底(di)部有(you)壹(yi)塊可換的(de)保護蓋(gai)，該保護蓋(gai)對(dui)儀(yi)器的(de)內(nei)部(bu)電子(zi)元(yuan)件起(qi)到熱保護及(ji)防(fang)止(zhi)底(di)部磨損的(de)作(zuo)用。運(yun)輸(shu)箱(xiang)內含用作(zuo)密(mi)度(du)計數(shu)用的(de)密(mi)度(du)參(can)考(kao)塊。軟(ruan)件提(ti)供三(san)種(zhong)測(ce)試模(mo)式(shi)（連(lian)續(xu)、平均和(he)離(li)析(xi)），使(shi)其靈活(huo)，用途(tu)廣(guang)。為(wei)了容易(yi)使(shi)用，該(gai)軟(ruan)件還(hai)提供自動計(ji)算功能（如平均密(mi)度(du)、壓實(shi)度、空(kong)隙率等）。儀(yi)器的(de)測(ce)試結(jie)果可(ke)以用密(mi)度偏差(cha)補(bu)償(chang)、斜(xie)率調(tiao)整(zheng)或(huo)綜(zong)合(he)標(biao)定(ding)來提測(ce)試精(jing)度(du)，既可(ke)以用交(jiao)流充電器也(ye)可(ke)以用直(zhi)流充電器。

　　無核(he)密度(du)儀(yi)的(de)校(xiao)驗方法：

　　1.技(ji)術(shu)要(yao)求

　　目(mu)測(ce)儀(yi)器外觀(guan)是否(fou)整(zheng)潔幹(gan)凈(jing)；

　　探(tan)測(ce)深度(du)：≥4.0cm；

　　操(cao)作(zuo)環(huan)境溫度(du)：0-70℃。

　　2.方(fang)法

　　選擇(ze)測(ce)量場(chang)地(di)，先用無核(he)密度(du)儀(yi)標明測(ce)量點(dian)，用五(wu)點(dian)法(fa)（即(ji)所(suo)鉆試樣圓心垂(chui)直(zhi)兩直(zhi)徑與試件(jian)外圓的(de)4個交點(dian)）測(ce)得的(de)平均值作(zuo)為(wei)試件(jian)無核(he)密度(du)儀(yi)的(de)實(shi)測(ce)值。再用鉆芯機(ji)鉆取(qu)試件(jian)，然(ran)後用表幹(gan)法(fa)或(huo)蠟封法(fa)對(dui)試件(jian)進(jin)行(xing)試驗。

　　3.比對(dui)

　　用無核(he)密度(du)儀(yi)所(suo)測(ce)得的(de)值與取(qu)樣測(ce)得的(de)值進行(xing)比(bi)對(dui)，並(bing)進(jin)行(xing)修(xiu)正(zheng)值設置，要(yao)求同(tong)結(jie)構(gou)層(ceng)的(de)密(mi)度(du)誤(wu)差(cha)為(wei)±10kg/m3。

　　4.校驗結果的(de)處(chu)理(li)和(he)判(pan)定(ding)

　　如壹(yi)次(ci)試驗不合格，可(ke)再復(fu)測(ce)幾次(ci)，以復測(ce)的(de)檢(jian)測(ce)結果為(wei)評(ping)定(ding)結果。

　　5.校(xiao)驗周期

　　無核(he)密度(du)儀(yi)校驗周期為(wei)壹(yi)年(nian)。

　　6.記(ji)錄

　　無核(he)密度(du)儀(yi)校驗記(ji)錄。