新款(kuan)JDZ-2C型(xing)便(bian)攜(xie)式(shi)磁(ci)導率(lv)儀(yi)（手(shou)持(chi)式(shi)磁導率(lv)儀(yi)）分(fen)辨率(lv)為(wei)0.0001

產(chan)品簡(jian)介(jie)：

便攜(xie)式(shi)磁(ci)導率(lv)儀(yi)是壹款(kuan)采(cai)用磁(ci)通(tong)門(men)弱(ruo)磁(ci)測量(liang)的(de)儀(yi)器，具有(you)輕巧(qiao)便(bian)攜(xie)、操(cao)作簡(jian)便、工(gong)作穩定(ding)、測量(liang)數(shu)據可靠(kao)的導磁(ci)率(lv)測量(liang)儀(yi)器，是實(shi)驗(yan)室、野(ye)外探測兩用的(de)測量(liang)儀(yi)器；主(zhu)要(yao)用於航天(tian)、航(hang)空(kong)、核(he)電、石化、電子、機(ji)械(xie)、地(di)質(zhi)、材料(liao)、汽(qi)車、鑄造(zao)等工業(ye)的的無(wu)損(sun)檢測；適(shi)用於實(shi)驗(yan)室、野(ye)外相對(dui)磁(ci)導率(lv)的(de)測量(liang)和(he)比較(jiao)。

檢測標(biao)準：符(fu)合(he)GB/T 35690-2017弱(ruo)磁(ci)材(cai)料(liao)相對(dui)磁(ci)導率(lv)測量(liang)方(fang)法(fa)（相對(dui)磁(ci)導率(lv)Ur測量(liang)的(de)探頭(tou)符(fu)合(he)IEC 60404-15和 ASTM A342M標(biao)準）

應用範圍：

1.用於不銹(xiu)鋼、錳鋼、有(you)色金屬等無磁、抗磁、弱(ruo)磁(ci)材(cai)料(liao)及焊接(jie)材料(liao)、填(tian)充(chong)、防護(hu)材料(liao)的(de)無(wu)損檢測；如(ru)測量(liang)石(shi)油鉆鋌、連接(jie)器、抗磁(ci)屏(ping)蔽罩、零(ling)件、無(wu)磁幹(gan)擾物等相對(dui)磁(ci)導率(lv)測量(liang)。

2.用於不同牌(pai)號(hao)無(wu)磁鋼用相對(dui)磁(ci)導率(lv)比較(jiao)分(fen)類、相同工(gong)件不同材(cai)料(liao)用相對(dui)磁(ci)導率(lv)特征(zheng)區分(fen)。

3.用於材料(liao)缺(que)陷(xian)、應力檢測，隨(sui)時(shi)掌(zhang)握(wo)無磁(ci)鋼鑄件(jian)的鑄(zhu)造(zao)產(chan)生(sheng)的雜(za)質(zhi)缺陷(xian)、熱處理(li)、變形加(jia)工、機(ji)械(xie)加(jia)工(gong)後相對(dui)相對(dui)磁(ci)導率(lv)變化，及時更(geng)改加工(gong)工(gong)藝，防止(zhi)產品(pin)相對(dui)磁(ci)導率(lv)超(chao)出要(yao)求(qiu)範圍，造成(cheng)產(chan)品(pin)報(bao)廢。

技術參(can)數(shu)：

檢測範圍：1.000~1.999Ur

分(fen)  辨  率(lv)：0.0001Ur

測量(liang)誤差(cha)：±2.5%

標(biao)準試塊：Ur=1.200（按(an)要(yao)求(qiu)配）

防護(hu)等級：IP60

顯示屏幕：4位液(ye)晶

儀(yi)器重量(liang)：0.35kg     

充  電  器：AC100~220V

待(dai)機(ji)時(shi)間(jian)：500小(xiao)時(shi)

測量(liang)時(shi)間(jian)：大於10小(xiao)時(shi)

充(chong)電中(zhong)嚴(yan)禁測量(liang)

儀(yi)器尺寸：140 x 70 x 28 mm

備(bei)       註：計算(suan)公式(shi)：Ur=B(Gs)/H(Oe)（相對(dui)磁(ci)導率(lv)單(dan)位Ur。磁(ci)感應強度B單(dan)位Gs，磁(ci)場強(qiang)度H單(dan)位Oe）。

使(shi)用說明(ming)：

1. 儀(yi)器、探頭(tou)器件，須(xu)嚴(yan)格管(guan)理(li)，使(shi)用時(shi)應輕拿輕放(fang)，不(bu)可敲(qiao)打(da)或(huo)撞(zhuang)擊(ji)。

2. 儀(yi)器探頭(tou)嚴(yan)禁測量(liang)或(huo)接(jie)觸(chu)鐵(tie)磁物材(cai)料(liao)。

3. 測量(liang)完(wan)畢(bi)後應及時套(tao)上(shang)探頭(tou)防護(hu)蓋(gai)，以防探頭(tou)接(jie)觸(chu)鐵(tie)磁物。

4. 儀(yi)器保管(guan)時，儀(yi)器、探頭(tou)要(yao)遠離(li)鐵(tie)、磁材料(liao)、零(ling)件等。

5. 出廠(chang)時(shi)經(jing)過(guo)嚴(yan)格校(xiao)準，不(bu)要(yao)隨意(yi)打開。否則，儀(yi)器需返廠(chang)重新校(xiao)準。

6. 探頭(tou)漂移(yi)、測量(liang)靈敏(min)度下降(jiang)後續返廠(chang)修(xiu)理(li)或(huo)更(geng)換。

7. 為了保證儀(yi)器測量(liang)準確度，在(zai)測量(liang)過(guo)程中(zhong)儀(yi)器可隨時校(xiao)準。