JDZ-2C便(bian)攜(xie)式磁(ci)導(dao)率(lv)儀是壹(yi)款(kuan)采(cai)用(yong)磁(ci)通(tong)門(men)弱(ruo)磁(ci)測(ce)量的(de)儀器(qi)

產品簡(jian)介(jie)：

便(bian)攜(xie)式磁(ci)導(dao)率(lv)儀是壹(yi)款(kuan)采(cai)用(yong)磁(ci)通(tong)門(men)弱(ruo)磁(ci)測(ce)量的(de)儀器(qi)，具有輕(qing)巧(qiao)便(bian)攜(xie)、操作簡(jian)便(bian)、工作穩定(ding)、測(ce)量數(shu)據可(ke)靠(kao)的(de)導(dao)磁(ci)率(lv)測量儀器(qi)，是實驗室(shi)、野外(wai)探(tan)測(ce)兩用(yong)的(de)測(ce)量儀器(qi)；主要(yao)用(yong)於(yu)航天、航空、核(he)電、石(shi)化、電(dian)子、機械、地質(zhi)、材(cai)料、汽(qi)車(che)、鑄(zhu)造(zao)等(deng)工業的的無損檢測(ce)；適用(yong)於(yu)實(shi)驗(yan)室(shi)、野外(wai)相(xiang)對磁(ci)導(dao)率(lv)的測量和(he)比(bi)較(jiao)。

檢(jian)測標準(zhun)：符(fu)合GB/T 35690-2017弱(ruo)磁(ci)材(cai)料相(xiang)對磁(ci)導(dao)率(lv)測量方法(fa)（相(xiang)對磁(ci)導(dao)率(lv)Ur測量的(de)探(tan)頭(tou)符(fu)合IEC 60404-15）

便(bian)攜(xie)式磁(ci)導(dao)率(lv)儀應用(yong)範(fan)圍(wei)：

1.用(yong)於(yu)不(bu)銹(xiu)鋼(gang)、錳(meng)鋼、有(you)色金屬(shu)等(deng)無磁(ci)、抗磁(ci)、弱(ruo)磁(ci)材(cai)料及(ji)焊(han)接(jie)材(cai)料、填充、防(fang)護(hu)材(cai)料的無損檢測(ce)；如(ru)測量石(shi)油鉆(zuan)鋌(ting)、連(lian)接(jie)器(qi)、抗磁(ci)屏(ping)蔽(bi)罩(zhao)、零(ling)件、無磁(ci)幹(gan)擾(rao)物(wu)等(deng)相(xiang)對磁(ci)導(dao)率(lv)測量。

2.用(yong)於(yu)不(bu)同(tong)牌(pai)號無磁(ci)鋼(gang)用(yong)相(xiang)對磁(ci)導(dao)率(lv)比(bi)較(jiao)分類(lei)、相(xiang)同工件不同(tong)材(cai)料用(yong)相(xiang)對磁(ci)導(dao)率(lv)特征區(qu)分。

3.用(yong)於(yu)材(cai)料缺陷(xian)、應力(li)檢(jian)測，隨(sui)時(shi)掌(zhang)握(wo)無磁(ci)鋼(gang)鑄(zhu)件的鑄(zhu)造(zao)產生的(de)雜(za)質(zhi)缺陷(xian)、熱(re)處(chu)理、變(bian)形(xing)加(jia)工、機械加(jia)工後相(xiang)對相(xiang)對磁(ci)導(dao)率(lv)變化，及(ji)時(shi)更改(gai)加(jia)工工藝(yi)，防(fang)止產品相(xiang)對磁(ci)導(dao)率(lv)超出要(yao)求(qiu)範(fan)圍(wei)，造(zao)成(cheng)產品報(bao)廢。

技(ji)術參數(shu)：

檢測範圍(wei)：1.000~1.999Ur

分  辨(bian)  率(lv)：0.001Ur

測量誤差：±2.5%

標準(zhun)試(shi)塊(kuai)：Ur=1.200（按要(yao)求(qiu)配(pei)）

防(fang)護(hu)等(deng)級(ji)：IP60

顯示屏(ping)幕(mu)：4位液(ye)晶(jing)

儀器(qi)重量：0.35kg     

充  電(dian)  器(qi)：AC100~220V

待(dai)機時(shi)間(jian)：500小時(shi)

測(ce)量時(shi)間(jian)：大於10小(xiao)時(shi)

充電(dian)中(zhong)嚴(yan)禁(jin)測(ce)量

儀器(qi)尺寸(cun)：140 x 70 x 28 mm

備(bei)       註：計(ji)算(suan)公式：Ur=B(Gs)/H(Oe)（相(xiang)對磁(ci)導(dao)率(lv)單位Ur。磁(ci)感(gan)應強(qiang)度(du)B單(dan)位Gs，磁(ci)場(chang)強度(du)H單(dan)位Oe）。

使用(yong)說(shuo)明：

1. 儀器(qi)、探(tan)頭(tou)屬敏感(gan)器(qi)件，須嚴(yan)格(ge)管(guan)理，使用(yong)時(shi)應輕(qing)拿輕(qing)放(fang)，不(bu)可敲打(da)或撞(zhuang)擊(ji)。

2. 儀器(qi)探(tan)頭(tou)嚴禁測量或接(jie)觸(chu)鐵(tie)磁(ci)物(wu)材(cai)料。

3. 測量完畢(bi)後應及(ji)時(shi)套(tao)上探(tan)頭(tou)防(fang)護(hu)蓋，以防(fang)探(tan)頭(tou)接(jie)觸(chu)鐵(tie)磁(ci)物(wu)。

4. 儀器(qi)保管時(shi)，儀器(qi)、探(tan)頭(tou)要(yao)遠(yuan)離鐵(tie)、磁(ci)材(cai)料、零(ling)件等(deng)。

5. 出廠(chang)時(shi)經過嚴(yan)格(ge)校準，不要(yao)隨意(yi)打(da)開(kai)。否(fou)則(ze)，儀器(qi)需(xu)返(fan)廠(chang)重(zhong)新校準。

6. 探(tan)頭(tou)漂移(yi)、測量靈敏度(du)下降後續(xu)返(fan)廠(chang)修(xiu)理或更換。

7. 為了儀器(qi)測量準(zhun)確(que)度(du)，在測(ce)量過(guo)程中儀器(qi)可隨時(shi)校準。