JDZ-2A臺(tai)式相對(dui)磁導率測量(liang)儀技(ji)術說(shuo)明(ming)！

產(chan)品簡(jian)介(jie)：

臺(tai)式相對(dui)磁導率測量(liang)儀是壹(yi)款采用磁(ci)通門(men)弱磁(ci)測(ce)量(liang)的儀器，具(ju)有(you)輕(qing)巧(qiao)便攜(xie)、操作(zuo)簡(jian)便、工(gong)作(zuo)穩(wen)定(ding)、測量(liang)數據(ju)可(ke)靠(kao)的導磁率測量(liang)儀器，是實(shi)驗室(shi)、野外探(tan)測(ce)兩(liang)用的(de)測(ce)量(liang)儀器；主要用於(yu)航(hang)天(tian)、航(hang)空(kong)、核電、石化(hua)、電子、機(ji)械、地(di)質(zhi)、材(cai)料(liao)、汽(qi)車、鑄(zhu)造(zao)等(deng)工業的的(de)無損(sun)檢(jian)測(ce)；適(shi)用於(yu)實(shi)驗室(shi)、野外相(xiang)對磁(ci)導率的測量(liang)和(he)比(bi)較(jiao)。

檢測(ce)：符(fu)合GB/T 35690-2017弱磁(ci)材(cai)料(liao)相(xiang)對磁(ci)導率測量(liang)方法(fa)（相(xiang)對(dui)磁(ci)導率Ur測量(liang)的探(tan)頭(tou)符(fu)合IEC 60404-15和(he) ASTM A342M）

臺(tai)式相對(dui)磁導率測量(liang)儀應(ying)用範圍(wei)：

1.用於(yu)不(bu)銹鋼、錳鋼、有色金(jin)屬等(deng)無磁、抗磁(ci)、弱磁(ci)材(cai)料(liao)及(ji)焊接(jie)材(cai)料(liao)、填(tian)充(chong)、防護(hu)材(cai)料(liao)的(de)無損(sun)檢測；如(ru)測量(liang)石油(you)鉆(zuan)鋌(ting)、連(lian)接器、抗磁屏蔽罩、零件(jian)、無磁(ci)幹擾(rao)物等(deng)相對磁導率測量(liang)。

2.用於(yu)不(bu)同(tong)牌號無磁(ci)鋼用相(xiang)對(dui)磁導率比較(jiao)分類、相同(tong)工件(jian)不同(tong)材(cai)料(liao)用相(xiang)對(dui)磁導率特征(zheng)區分(fen)。

3.用於(yu)材(cai)料(liao)缺(que)陷、應(ying)力(li)檢測，隨時掌握(wo)無磁(ci)鋼鑄(zhu)件(jian)的鑄(zhu)造(zao)產(chan)生的(de)雜(za)質缺(que)陷、熱(re)處理(li)、變(bian)形(xing)加工、機(ji)械加工後相(xiang)對(dui)相對(dui)磁導率變化，及時(shi)更(geng)改加工工(gong)藝，防止(zhi)產(chan)品相(xiang)對(dui)磁(ci)導率超出(chu)要求(qiu)範圍(wei)，造(zao)成(cheng)產(chan)品報(bao)廢。

臺(tai)式磁導率儀技(ji)術參(can)數(shu)：

檢測(ce)範圍(wei)：1.000~1.999Ur

分(fen)  辨(bian)  率：0.001Ur

測量(liang)誤差(cha)：±2.5%

試(shi)塊(kuai)：Ur=1.200（按(an)要求配）

防護(hu)等(deng)級：IP60

顯(xian)示(shi)屏(ping)幕(mu)：4位大(da)液晶屏

儀器重量(liang)：3kg

電源電壓(ya)：AC220V 50Hz

儀器尺寸：230x230x90mm

備註(zhu)：計算(suan)公(gong)式：Ur=B(Gs)/H(Oe)（相(xiang)對(dui)磁(ci)導率單位Ur。磁感應(ying)強(qiang)度(du)B單位Gs，磁場(chang)強(qiang)度(du)H單位Oe）。

臺(tai)式磁導率儀使(shi)用說(shuo)明(ming)：

1. 儀器探(tan)頭(tou)器件(jian)，須(xu)嚴(yan)格管(guan)理(li)，使(shi)用時(shi)應(ying)輕(qing)拿輕(qing)放，不可敲(qiao)打(da)或撞擊。

2. 儀器探(tan)頭(tou)嚴(yan)禁(jin)測(ce)量(liang)或接(jie)觸(chu)鐵磁(ci)物材(cai)料(liao)。

3. 測(ce)量(liang)完畢(bi)後應(ying)及(ji)時套上探(tan)頭(tou)防護(hu)蓋，以(yi)防探(tan)頭(tou)接(jie)觸(chu)鐵磁(ci)物。

4. 儀器保管(guan)時(shi)，儀器、探(tan)頭(tou)要(yao)遠(yuan)離(li)鐵、磁(ci)材(cai)料(liao)、零(ling)件(jian)等(deng)。

5. 出(chu)廠時(shi)經(jing)過嚴(yan)格校準(zhun)，不(bu)要隨(sui)意(yi)打(da)開(kai)。否(fou)則，儀器需返廠(chang)重(zhong)新校準(zhun)。

6. 探(tan)頭(tou)漂(piao)移(yi)、測(ce)量(liang)靈敏度(du)下(xia)降後續返廠(chang)修理(li)或(huo)更(geng)換(huan)。

7. 為了(le)儀器測量(liang)準確(que)度(du)，在(zai)測(ce)量(liang)過程(cheng)中儀器可隨時校(xiao)準(zhun)。